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GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀 主要用途:主要用于測量非金屬材料的介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(tanδ) 應(yīng)用對象:該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
郵箱:243132897@qq.com
地址:北京市延慶區(qū)中關(guān)村延慶園東環(huán)路2號樓1066室
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